Rasterkraftmikroskopie: Unterschied zwischen den Versionen
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Aktuelle Version vom 9. November 2016, 15:45 Uhr
509 Rasterkraftmikroskopie
Rastekraftmikroskopie (atomic force microscopy, AFM) ist eine Messverfahren zu Abbildung von Oberflächen. Hierbei rastert eine feine Spitze die auf einem Biegebalken befestigt ist die Oberfläche. Die Kräftewechselwirkung zwischen der Spitze und der Oberfläche wird von dem Regelsystem des Mikroskops detektiert und ein Bild der Topographie übersetzt. Im Gegensatz zur Rastertunnelmikroskop lassen sich auch nicht leitende Proben abbilden. Die Studierenden erhalten den Überblick über die relevanten Kräfte, unterschiedliche Modi des Messverfahrens, die Funktionsweise des Mikroskops und typische Abbildungsfehler. Im praktischen Teil des Experiments werden mehrere definierte Strukturen (µm Größen) und Nanopartikel (nm Größen) in Kontaktmodus des AFMs abgebildet.
