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		<title>Rastertunnelmikroskopie - Versionsgeschichte</title>
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		<subtitle>Versionsgeschichte dieser Seite in F-Praktikum SOWAS Wiki</subtitle>
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		<title>Reicherz am 28. April 2010 um 11:12 Uhr</title>
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		<author><name>Reicherz</name></author>	</entry>

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		<summary type="html">&lt;p&gt;Die Seite wurde neu angelegt: „Zu den wichtigsten Untersuchungsmethoden der Oberflächenphysik im Realraum haben sich in den letzten Jahren die Rastersondenmikroskopiemethoden entwickelt. In de...“&lt;/p&gt;
&lt;p&gt;&lt;b&gt;Neue Seite&lt;/b&gt;&lt;/p&gt;&lt;div&gt;Zu den wichtigsten Untersuchungsmethoden der Oberflächenphysik im Realraum haben sich in den letzten Jahren die Rastersondenmikroskopiemethoden entwickelt. In dem Versuch STM (Scanning Tunneling Microsscope) wird die Funktionsweise eines Rastertunnelmikroskops erklärt und die Oberfläche kristalliner Strukturen auf atomarer Skala sichtbar gemacht. Der Versuch beinhaltet neben einer Kalibrierung des Mikroskops die Untersuchung der Struktur von Graphit und die direkte Messung seiner Gitterkonstante auf atomarer Skala. In einem zweiten Teil wird eine Goldschicht auf einem Glimmersubstrat hergestellt und anschließend mit dem STM abgebildet. Dabei wird die Höhe monoatomarer Stufen auf der Goldschicht gemessen. Der dritte Teil des Versuchs beschäftigt sich mit Tunnelspektroskopie (STS, Scanning Tunneling Spectroscopy) an Halbleitern.&lt;/div&gt;</summary>
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